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書名: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2007 <SV> 9780387465463
作者: SACHDEV
ISBN: 9780387465463
出版社: Springer
書籍開數、尺寸: 23.6x16.3x1.8
頁數: 328
定價: 6079元
售價: 6079元
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2007 <SV> 9780387465463

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