書名: DEFECT BASED TESTING 2000
作者: ALAMITOS
ISBN: 9780769506371
出版社: Cengage
定價: 3500
售價: 3500
庫存: 已售完
LINE US!
此書為本公司代理,目前已售完,有需要可以向line客服詢問進口動向

付款方式: 超商取貨付款 line pay
信用卡 全支付
線上轉帳 Apple pay
物流方式: 超商取貨
宅配
門市自取

為您推薦

Thin Film Materials Stress,Defect Formation & Surface Evolution 2009 <CAM.>978-0-521-52977-8

Thin Film Materials Stress,Defect Formation & Surface Evolution 2009 <CAM.>978-0-521-52977-8

類似書籍推薦給您

原價: 1580 售價: 1580 現省: 0元
立即查看
Automated Defect Prevention Best Practices in Software Management 2007 <JW> 978-0-470-04212-0

Automated Defect Prevention Best Practices in Software Management 2007 <JW> 978-0-470-04212-0

類似書籍推薦給您

原價: 1400 售價: 1400 現省: 0元
立即查看
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2007 <SV> 9780387465463

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2007 <SV> 9780387465463

類似書籍推薦給您

原價: 6079 售價: 6079 現省: 0元
立即查看
Thin Film Materials Stress,Defect Formation and Surface Evolution 2003 (CAM.) 0-521-82281-5

Thin Film Materials Stress,Defect Formation and Surface Evolution 2003 (CAM.) 0-521-82281-5

類似書籍推薦給您

原價: 1700 售價: 1700 現省: 0元
立即查看
OBJECT-ORIENTED DEFECT MANAGEMENT OF SOFTWARE 2002

OBJECT-ORIENTED DEFECT MANAGEMENT OF SOFTWARE 2002

類似書籍推薦給您

原價: 2050 售價: 2050 現省: 0元
立即查看