書名: Statistical Methods for Reliability Data (2版)
作者: Meeker
版次: 2
ISBN: 9781118115459
出版社: John Wiley
出版日期: 2021/12
書籍開數、尺寸: 25.9*18.3
重量: 1.18 Kg
頁數: 704
#數學與統計學
#機率與統計
定價: 1820
售價: 1693
庫存: 庫存: 2
LINE US! 詢問這本書 團購優惠、書籍資訊 等

付款方式: 超商取貨付款 line pay
信用卡 全支付
線上轉帳 Apple pay
物流方式: 超商取貨
宅配
門市自取

詳細資訊

商品描述 An authoritative guide to the most recent advances in statistical methods for quantifying reliability Statistical Methods for Reliability Data, Second Edition (SMRD2) is an essential guide to the most widely used and recently developed statistical methods for reliability data analysis and reliability test planning. Written by three experts in the area, SMRD2 updates and extends the long-established statistical techniques and shows how to apply powerful graphical, numerical, and simulation-based methods to a range of applications in reliability. SMRD2 is a comprehensive resource that describes maximum likelihood and Bayesian methods for solving practical problems that arise in product reliability and similar areas of application. This text illustrates methods with numerous applications and all the data sets are available on the book's website. Also, SMRD2 contains an extensive collection of exercises that will enhance its use as a course textbook. This Second Edition: Contains a wealth of information on modern methods and techniques for reliability data analysis Offers discussions on the practical problem-solving power of various Bayesian inference methods Provides examples of Bayesian data analysis performed using the R interface to the Stan system based on Stan models that are available on the book's website Includes helpful technical-problem and data-analysis exercise sets at the end of every chapter Presents illustrative computer graphics that highlight data, results of analyses, and technical concepts Written for engineers and statisticians in industry and academia, Statistical Methods for Reliability Data, Second Edition includes access to a companion website with valuable resources, including R packages, Stan model codes, presentation slides, technical notes, information about commercial software for reliability data analysis, and csv files for the data sets used in the book's examples and exercises. 商品描述(中文翻譯) 《統計方法應用於可靠性數據的權威指南》 《統計方法應用於可靠性數據,第二版》(SMRD2)是一本關於可靠性數據分析和可靠性測試計劃的最廣泛使用和最新發展的統計方法的必備指南。由三位領域專家撰寫,SMRD2更新並擴展了長期以來的統計技術,並展示了如何應用強大的圖形、數值和基於模擬的方法於可靠性的各種應用中。SMRD2是一個全面的資源,描述了最大概似和貝葉斯方法來解決產品可靠性和相似應用領域中出現的實際問題。本書通過眾多應用案例來說明方法,並且所有數據集都可以在書籍的網站上找到。此外,SMRD2還包含了大量的練習題,以增強其作為課程教材的使用價值。 本書第二版的特點如下: - 包含了大量關於現代可靠性數據分析方法和技術的信息 - 討論了各種貝葉斯推斷方法在實際問題解決中的實用性 - 提供了使用R接口到Stan系統進行的貝葉斯數據分析示例,這些Stan模型可以在書籍的網站上找到 - 每章末尾提供了有用的技術問題和數據分析練習題 - 提供了以數據、分析結果和技術概念為重點的示意圖 《統計方法應用於可靠性數據,第二版》針對工業界和學術界的工程師和統計學家撰寫,並提供了一個附帶網站,其中包含有價值的資源,包括R套件、Stan模型代碼、演示幻燈片、技術筆記、關於商業軟體的可靠性數據分析信息,以及用於書中示例和練習的csv數據集。 作者簡介 William Q. Meeker, PhD, is Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts and Sciences at Iowa State University. He is a Fellow of the American Association for the Advancement of Science, the American Statistical Association, and the American Society for Quality. Luis A. Escobar, PhD, is a Professor in the Department of Experimental Statistics at Louisiana State University. He is a Fellow of the American Statistical Association, an elected member of the International Statistics Institute, and an elected Member of the Colombian Academy of Sciences. Francis G. Pascual, PhD, is an Associate Professor in the Department of Mathematics and Statistics at Washington State University. 作者簡介(中文翻譯) William Q. Meeker, PhD 是愛荷華州立大學統計學教授和自由藝術與科學卓越教授。他是美國科學促進協會、美國統計學會和美國品質學會的會士。 Luis A. Escobar, PhD 是路易斯安那州立大學實驗統計學系教授。他是美國統計學會的會士,國際統計學會的選舉會員,以及哥倫比亞科學院的選舉會員。 Francis G. Pascual, PhD 是華盛頓州立大學數學與統計學系副教授。

為您推薦

半導體IC產品可靠度 : 統計 物理與工程 (2版)

半導體IC產品可靠度 : 統計 物理與工程 (2版)

其他會員也一起購買

半導體IC產品可靠度:統計、物理與工程 作 者:傅寬裕 出版社別:五南 出版日期:2020/07/01(2版5刷) ISBN:978-957-11-6074-0 書 號:5DB5 頁 數:248 開 數:20K 1. 本書附有元素週期表、AQL選樣計劃表、半導體物理常數表,可供讀者翻閱參考。 2. 唯一一本貫穿半導體產業為題材的專業書籍。以半導體IC產品的可靠度為例,從電路設計,到封裝製程的所有專業工作者都不能忽略的題材。   本書的編寫以半導體IC產品的可靠度為例,從電路設計,到封裝製程的所有專業工作者都不能忽略的題材而開展。全書共分六章;開宗明義的第一章旨在介紹給讀者以半導體、IC產品製程、及基本可靠度的知識與觀念。第二章,則從統計與物理兩個面向,致力於幾個對IC產品可用的可靠度壽命分佈模型來解說。第三章,深入淺出地介紹與IC元件有關的幾個基本可靠度問題。第四章,介紹有關後段封裝所可能引起的其它可靠度問題。現今IC業界,為了保證產品的可靠度,從晶圓,到封裝的製程,都有一套公認的可靠度認證過程。特別將認證過程公認的主要規定闡述於第五章。最後,於第六章,介紹對失效品的故障分析。從分析儀器及技術、常見的故障原因,到如何減低故障發生率的未來方向都有精簡的敘述。   本書適合作為電子、電機工程及相關科系研究生教科書,半導體IC業界從業工程師參考書。相關理工科系的大學部學生,如有志於半導體IC一行為業,以本書作為進階的參考書,當亦有所牌益。 目錄 第1章 緒 論 1.1 半導體 1.2 半導體 IC 產品的製造流程 1.3 基本可靠度觀念 1.4 產品可用壽命 參考文獻 第2章 可靠度壽命分布模型 2.1 指數分布模型 2.2 常態與對數常態分布模型 2.2.1 常態分布模型 2.2.2 對數常態分布模型 2.3 韋伯分布(Weibull distribution)模型 2.4 浴缸曲線(bathtub curve) 2.4.1 早夭期(infant mortality period) 2.4.2 有用生命期(useful life period) 參考文獻 第3章 半導體 IC 元件的基本可靠度問題 3.1 介電質的崩潰(dieletric breakdown) 3.2 電晶體的不穩定度 3.2.1 離子污染 3.2.2 熱載子射入 3.2.3 負偏壓溫度不穩定度(NBTI) 3.3 金屬導體的電遷移(electromigra-tion,簡稱 EM) 3.4 靜電放電引起的潛藏性傷害 3.5 CMOS 寄生雙載子電晶體引起的電路閂鎖及其傷害 3.6 粒子造成的軟性錯誤(soft error) 參考文獻 第4章 半導體 IC 封裝的可靠度問題 4.1 封裝或晶粒的裂開 4.2 金屬導線的腐蝕 4.3 連接線的脫落 4.4 封裝主要可靠度問題的表列 4.5 封裝可靠度測試 參考文獻 第5章 半導體 IC 產品量產的認證過程 5.1 量產前可靠度認證的一般規格 5.2 晶粒可靠度認證測試 5.2.1 元件可靠度認證測試 5.2.2 產品可靠度認證測試 5.3 封裝可靠度認證測試 5.4 比較嚴格的車規認證 參考文獻 第6章 故障分析 6.1 故障分析的工具/技術 6.2 電性與物性故障分析 6.3 常見的故障模態/機制 6.4 減少故障率的未來方向 參考文獻

原價: 450 售價: 405 現省: 45元
立即查看
Statistical Methods for Psychology (8版)

Statistical Methods for Psychology (8版)

類似書籍推薦給您

Statistical Methods for Psychology 8/E 2013 (USE) 作/ 譯者:Howell ISBN:9780357670996 年份:2013 書號:00107463 開數:25*20 頁數:770

原價: 1680 售價: 1596 現省: 84元
立即查看
Munro's Statistical Methods for Health Care Research (6版)

Munro's Statistical Methods for Health Care Research (6版)

類似書籍推薦給您

原價: 1800 售價: 1800 現省: 0元
立即查看
Statistical Methods For The Social Sciences (5版)

Statistical Methods For The Social Sciences (5版)

類似書籍推薦給您

書名:Statistical Methods For The Social Sciences 5/E 作者:AGRESTI 出版社:Pearson 出版日期:2018/00/00 ISBN:9781292220314

原價: 1330 售價: 1264 現省: 66元
立即查看
The Analysis of Covariance and Alternatives: Statistical Methods for Experiments, Quasi-Experiments, and Single-Case Studies

The Analysis of Covariance and Alternatives: Statistical Methods for Experiments, Quasi-Experiments, and Single-Case Studies

類似書籍推薦給您

原價: 4796 售價: 4796 現省: 0元
立即查看
Statistical Methods for Psychology (8版)

Statistical Methods for Psychology (8版)

類似書籍推薦給您

原價: 1680 售價: 1596 現省: 84元
立即查看