書名: CMOS VLSI 設計原理 (3版)
作者: WESTE,
譯者: 周世傑
版次: 3
ISBN: 9789861548272
出版社: 偉明
出版日期: 2010/03
#工程
#電子與電機
#電路與訊號處理
#電路分析與設計
定價: 750
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【中文翻譯書】 書名:CMOS VLSI 設計原理 電路與系統探討 第三版 原文書名:CMOS VLSI Design:A Circuits and Systems Perspective 原文作者:Weste 中文譯者: 周世傑 出版社:偉明 出版日期:2010/05/20 ISBN:9789861548272

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【中文翻譯書】 書名 : 離散時間訊號處理 原文作者 : Oppenheim 原文書名 : Discrete-Time Signal Processing 3/e 譯者 : 陳常侃、王鵬華、丁建鈞 出版社 : 全華 書號 : 18041 ISBN : 9789862800089 內容簡介   第1章「簡介」數位訊號處理的概述、歷史與未來發展。   第2章「離散時間訊號與系統」:介紹離散時間訊號與系統的基本類別,並定義一些基本的特性,如線性、非時變形、穩定性、因果律等。   第3章「z轉換」:建立z轉換的基本理論與特性,以及逆z轉換的一些方法。   第4章「連續時間訊號的取樣」:討論當離散時間訊號主要是由週期取樣連續時間訊號而來時,連續時間訊號與離散時間訊號會有什麼樣的關係性,其中也包含Nyquist取樣定理的建立。   第5章「線性非時變系統的轉換分析」:深入探討線性非時變系統的特性。   第6章「離散時間系統的結構」:重點放在如何使用常係數線性差分方程式來表示系統,並藉由區塊圖和線性訊號流程圖來建立他們的表示法。   第7章「濾波器設計技巧」:討論如何獲得線性差分方程式的係數來近似我們所要求的系統響應。   第8章「離散傅立葉轉換」:介紹離散傅利葉轉換的性質,並詳細討論其和離散時間傅利葉轉換的相關性。   第9章「計算離散傅利葉轉換」:討論用來計算與實現DFT的各種重要演算法,其中包含Goertzel演算法、快速傅利葉轉換演算法及啾聲轉換。   第10章「使用離散傅立葉轉換進行訊號的傅立葉分析」:著重於使用DFT來對訊號做傅利葉分析。   第11章「參數訊號模型」:主要探討參數訊號模型等議題。   第12章「離散希爾伯特轉換」:討論離散希爾伯特轉換及應用。   第13章「倒頻譜分析與同態解旋積」:深入討論倒頻譜。 目錄 第1章 簡介 第2章 離散時間訊號與系統 第3章 z轉換 第4章 連續時間訊號的取樣 第5章 線性非時變系統的轉換分析 第6章 離散時間系統的結構 第7章 濾波器設計技巧 第8章 離散傅立葉轉換 第9章 計算離散傅立葉轉換 第10章 使用離散傅立葉轉換進行訊號的傅立葉分析 第11章 參數訊號模型 第12章 離散希爾伯特轉換 第13章 倒頻譜分析與同態解旋積 附錄A 隨機訊號 附錄B 連續時間濾波器 附錄C 部份基本問題的解答

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【簡介】 本書譯自Hong Xiao(蕭宏) 原著「Introduction to Semiconductor Manufacturing Technology」(第二版),提供最新的半導體製程相關加工技術之介紹與各種加工原理之說明與應用,是半導體製程實務最為鉅細靡遺的著作。本書適用於大學、科大電子、電機、資工、機械系『半導體工程』、『半導體製程』、『半導體導論』課程使用。 1.本書的內容集中在最新的積體電路製程技術同時也兼顧早期的技術以便讀者對積體電路製程技術的歷史發展有更完整的瞭解。 2.書內提供半導體製程相關加工技術之介紹與各種加工原理之說明與應用,使學生熟悉各種加工原理及其應用領域,以作為投入電子工業之基礎訓練課程。 3.此書委實是對半導體製程實務最為鉅細靡遺的著作,作為技術人員的工具書或有興趣了解晶圓廠的教科書,都是最適合的寶典。 【目錄】 第一章 導論 1.1 簡史 1.2 概述 1.3 本章總結 習題 參考文獻 第二章 積體電路製程介紹 2.1 IC製程簡介 2.2 IC的良率 2.3 無塵室技術 2.4 IC晶圓廠的基本結構 2.5 IC測試與封裝 2.6 近期的發展 2.7 本章總結 習題 參考文獻 第三章 半導體基礎 3.1 半導體基本概念 3.2 半導體基本元件 3.3 IC晶片 3.4 IC基本製程 3.5 互補式金屬氧化物電晶體 3.6 2000後半導體製程發展趨勢 3.7 本章總結 習題 參考文獻 第四章 晶圓製造、磊晶成長和基板工程 4.1 簡介 4.2 為什麼使用矽材料 4.3 晶體結構與缺陷 4.4 從矽砂到晶圓 4.5 磊晶矽生長技術 4.6 基板工程 4.7 未來趨勢 4.8 本章總結 習題 參考文獻 第五章 加熱製程 5.1 簡介 5.2 加熱製程的硬體設備 5.3 氧化製程 5.4 擴散 5.5 退火過程 5.6 高溫化學氣相沉積 5.7 快速加熱製程(RTP)系統 5.8 加熱製程近年發展 5.9 本章總結 習題 參考文獻 第六章 微影製程 6.1 簡介 6.2 光阻 6.3 微影製程 6.4 微影技術的發展趨勢 6.5 其他微影製程方法 6.6 極紫外光(EUV)微影技術 6.7 安全性 6.8 本章總結 習題 參考文獻 第七章 電漿製程 7.1 簡介 7.2 電漿基本概念 7.3 電漿中的碰撞 7.4 電漿參數 7.5 離子轟擊 7.6 直流偏壓 7.7 電漿製程優點 7.8 電漿增強化學氣相沉積及電漿蝕刻反應器 7.9 遠距電漿製程 7.10 高密度電漿(HDP)製程 7.11 本章總結 習題 參考文獻 第八章 離子佈植製程 8.1 簡介 8.2 離子佈植技術簡介 8.3 離子佈植技術硬體設備 8.4 離子佈植製程 8.5 安全性 8.6 近年發展及應用 8.7 本章總結 習題 參考文獻 第九章 蝕刻製程 9.1 蝕刻製程簡介 9.2 蝕刻製程基礎 9.3 濕式蝕刻製程 9.4 電漿(乾式)蝕刻製程 9.5 電漿蝕刻製程 9.6 蝕刻製程發展趨勢 9.7 蝕刻工藝的檢驗和計量 9.8 最新進展 9.9 本章總結 習題 參考文獻 第十章 化學氣相沉積與介電質薄膜 10.1 簡介 10.2 化學氣相沉積 10.3 介電質薄膜的應用於CMOS IC 10.4 介電質薄膜特性 10.5 介電質CVD製程 10.6 旋轉塗佈矽玻璃(Spin-on Glass,SOG) 10.7 高密度電漿CVD(HDP-CVD) 10.8 介電質CVD反應室清潔 10.9 新千禧年的介電質材料 10.10 本章總結 習題 參考文獻 第十一章 金屬化製程 11.1 簡介 11.2 導電薄膜 11.3 金屬薄膜特性 11.4 金屬化學氣相沉積 11.5 物理氣相沉積 11.6 銅金屬化製程 11.7 最新進展 11.8 安全性 11.9 本章總結 習題 參考文獻 第十二章 化學機械研磨製程 12.1 簡介 12.2 CMP硬體設備 12.3 CMP研磨漿 12.4 CMP基本理論 12.5 CMP製程 12.6 CMP製程近年發展 12.7 本章總結 習題 參考文獻 第十三章 半導體製程整合 13.1 簡介 13.2 晶圓準備 13.3 隔離技術 13.4 井區形成 13.5 電晶體製造 13.6 高k金屬閘極MOSFET 13.7 連線技術 13.8 鈍化 13.9 本章總結 習題 參考文獻 第十四章 IC製程技術 14.1 簡介 14.2 1980年代CMOS製程流程 14.3 1990年代CMOS製程流程 14.4 2000年代CMOS製程流程 14.5 2010年代CMOS製程流程 14.6 記憶體晶片製造製程 14.7 本章總結 習題 參考文獻 第十五章 3D IC元件的製造過程 15.1 引言 15.2 埋入式閘極字元線DRAM 15.3 3D-NAND 快閃記憶體 15.4 高介電質、金屬閘極FinFET CMOS製造 15.5 本章總結 習題 參考文獻 第十六章 總結與未來趨勢 參考文獻

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Low-Voltage CMOS VLSI Circuits 1999 <JW>

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【簡介】 Low-voltage very large scale integration (VLSI) circuits represent the electronics of the future. All electronic products are striving to reduce power consumption to create more economical, efficient, and compact devices. Despite the inevitable trend towards low-voltage, few books address the technology needed. Geared to the needs of engineers and designers in the field, this comprehensive volume presents a remarkably detailed analysis of one of today's hottest and most compelling research techniques for VLSI systems. An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department. 【目錄】

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Nanoscale CMOS VLSI Circuits Design for Manufacturability

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Cutting-Edge CMOS VLSI Design for Manufacturability Techniques This detailed guide offers proven methods for optimizing circuit designs to increase the yield, reliability, and manufacturability of products and mitigate defects and failure. Covering the latest devices, technologies, and processes, Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability focuses on delivering higher performance and lower power consumption. Costs, constraints, and computational efficiencies are also discussed in the practical resource. Nanoscale CMOS VLSI Circuits covers: Current trends in CMOS VLSI design Semiconductor manufacturing technologies Photolithography Process and device variability: analyses and modeling Manufacturing-Aware Physical Design Closure Metrology, manufacturing defects, and defect extraction Defect impact modeling and yield improvement techniques Physical design and reliability DFM tools and methodologies

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