【簡介】
半導體(Semiconductor)是介於導體(Conductor)與絕緣體(Insulator)之間的材料。我們可以輕易的藉由摻質(Dopant)的摻雜(Doping)去提高導電度(Conductivity)。其中二六族及三五族是為化合物半導體(Compound Semiconductor)材料,大部分是應用於光電領域,如發光二極體(Light Emitting Diode, LED)、太陽能電池(Solar cell)等。而目前的積體電路(Integrated Circuit, IC)領域,主要還是以第四族的矽(Si)為主的元素半導體,也就是目前的矽晶圓(Silicon Wafer)基底材料(Substrate) 。
在未來的日子,我們可預見晶圓廠裡將有可能全面改為自動化的運作,到那時將不再需要大量的操作人員。而主要的人力將會是工程師(含)以上的職務,所以希望能以此書與各位以及想轉職的朋友們提供一個分享,讓大家都能對於常見的機台設備及其製程技術,有一個全觀的認識,以提升職場的競爭力。
【目錄】
序
致謝
第○章 設備維修需具備的知識技能以及半導體導論篇
0.1 設備維修該有的認知及態度
0.2 設備安全標示的認識
0.2.1 設備安全標示的認識
0.2.2 個人防護裝備的認識
0.3 設備機電系統的定義及分類
類比控制系統
數位控制系統
0.4 設備控制系統
0.5 常見電路圖圖示認識
0.6 半導體導論
參考資料
第一章 擴散設備(Diffusion)篇
1.1 爐管(Furnace)
1.1.1 爐管設備系統架構
1.1.2 爐管製程介紹
1.1.3 製程程序步驟(Recipe)介紹
1.1.4 經驗分享
1.2 離子植入(Ion Implant)
1.2.1 離子植入製程基礎原理
1.2.2 離子植入機設備系統簡介
1.2.3 離子植入製程在積體電路製程的簡介
1.2.4 離子植入製程後的監控與量測
1.2.5 離子植入機操作注意事項
1.2.6 離子植入製程問題討論與分析
參考文獻 101
第二章 濕式蝕刻與清潔設備(wet bench)篇
2.1 濕式清洗與蝕刻的目的及方法
2.1.1 濕式清洗的目的
2.1.2 濕式蝕刻的目的
2.1.3 污染物對半導體元件電性的影響
2.2 晶圓表面清潔與蝕刻技術
2.2.1 晶圓表面有機汙染(organic contamination)洗淨
2.2.2 晶圓表面原生氧化層的移除
2.2.3 晶圓表面洗淨清潔技術
2.2.4 晶圓表面濕式蝕刻技術
2.3 化學品供應系統
2.3.1 化學品分類
2.3.2 化學品供應系統
2.4 wet bench結構與循環系統
2.4.1 濕式蝕刻及清潔設備(wet bench)結構
2.4.2 濕式蝕刻及清洗設備(wet bench)傳動系統
2.4.3 循環系統與乾燥系統
參考文獻
第三章 薄膜設備(Thin Films)篇
3.1 電漿(Plasma)
3.1.1 電漿產生的原理
3.1.2 射頻電漿電源(RF Generator)的功率量測儀器
3.2 化學氣相沉積設備系統(Chemical Vapor Deposition, CVD)
3.2.0 簡介
3.2.1 電漿輔助化學氣相沉積(PECVD)
3.2.2 新穎化學氣相沉積系統與磊晶系統(ALD、MBE、MOCVD)
3.3 物理氣相沉積設備系統(Physical Vapor Deposition, PVD)
3.3.1 熱蒸鍍
3.3.2 電子束蒸鍍
3.3.3 濺鍍
參考文獻
第四章 乾式蝕刻設備(Dry Etcher)篇
4.0 前言
4.0.1 乾式蝕刻機(Dry Etcher)
4.0.2 蝕刻腔體設計概念(Design Factors)
4.1 各種乾式蝕刻腔體設備介紹
4.1.1 反應式離子蝕刻機(Reactive Ion Etcher, RIE)
4.1.2 三極式電容偶合蝕刻系統(Triode RIE)
4.1.3 磁場增進式平行板電極(Magnetically Enhance RIE, MERIE)
4.1.4 高密度電漿蝕刻腔體(High Density Plasma Reactors)
4.1.5 多極式磁場侷限式電漿(Magnetic Multipole Confinement, MMC)
4.1.6 電感應偶合電漿(Inductive Couple Plasma, ICP)
4.1.7 電子迴旋共振式電漿(Electron Cyclotron Resonance, ECR)
4.1.8 螺旋微波電漿源(Helicon Wave Plasma Source, HWP)
4.2 晶圓固定與控溫設備
4.3 終點偵測裝置(End point detectors)
4.4 乾式蝕刻製程(Dry Etching Processes)
4.4.1 乾式蝕刻與濕式蝕刻的比較
4.4.2 乾式蝕刻機制
4.4.3 活性離子蝕刻的微觀現象
4.4.4 各式製程蝕刻說明
4.5 總結
參考文獻
第五章 黃光微影設備(Photolithography)篇
5.1 前言 256
5.2 光阻塗佈及顯影系統(Track system : Coater / Developer)
5.2.1 光阻塗佈系統(Coater)
5.2.2 顯影系統(Developer)
5.3 曝光系統(Exposure System)
5.3.1 光學微影(Optical Lithography)
5.3.2 電子束微影(E-beam Lithography)
5.4 現在與未來
5.4.1 浸潤式微影(Immersion Lithography)
5.4.2 極紫外光微影(Extreme Ultraviolet Lithography)
5.4.3 多電子束微影(Multi-Beam Lithography)
5.5 工作安全提醒
參考文獻
第六章 研磨設備(Polishing)篇
6.1 前言
6.2 化學機械研磨系統(Chemical Mechanical Polishing, CMP)
6.2.1 研磨頭
6.2.2 研磨平臺
6.2.3 研磨漿料控制系統
6.2.4 清洗/其他
6.3 研磨漿料
6.4 化學機械研磨製程中常見的現象
6.5 化學機械研磨常用的化學品
參考文獻
第七章 IC製造概述篇
7.1 互補式金氧半電晶體製造流程(CMOS Process Flow)
前段製程(FEOL)
後段製程(BEOL)
7.2 CMOS閘極氧化層陷阱電荷介紹
四種基本及重要的電荷
高頻的電容對電壓特性曲線(C-V curve)
7.3 鰭式電晶體元件製造流程(FinFET Device Process Flow)
PMOS鰭式場效應電晶體(PMOS bulk FinFET)製造流程
7.4 碳化矽高功率元件(SiC Power Device)—接面位障蕭特基二極體(Junction Barrier Schottky Diode, JBSD)製造流程
7.5 氮化鎵功率元件製造流程(GaN-on-Si HEMT Power device Process Flow)
參考文獻
第八章 控制元件檢測及維修篇
8.1 簡介
8.2 維修工具的使用
8.2.1 一般性維修工具組
8.2.2 三用電表的使用
8.2.3 示波器 (oscilloscope)的使用
8.2.4 數位邏輯筆的使用
8.3 設備機台常見的控制元件與儀表控制器
8.3.1 電源供應器(Power Supply)
8.3.2 溫度控制器(Temperature Controller)
8.3.3 伺服與步進馬達(Servo and Stepping motor)
8.3.4 質流控制器(Mass Flow Controller, MFC)
8.3.5 電磁閥(Solenoid Valve)
8.3.6 感測器(Sensor)
8.3.7 可程式邏輯控制器(PLC)
參考文獻
索引
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半導體元件(Streetman 7/e) (7版)
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原文書資訊
書名:SOLID STATE ELECTRONIC DEVICES 7/E 2015<Pearson Education, Inc.>
作者: STREETMAN
ISBN: 9781292060552
出版社: Pearson Education, Inc.
出版年: 2015年
中文書資訊
書名: 半導體元件(Streetman 7/e) 7/E 2017 <滄海書局>
作者: Streetman/ 龔正 鄭岫盈
ISBN: 9789862803646
出版社: 鼎隆
出版年: 2017年
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矽晶圓半導體材料技術(第七版)(精裝本)7/e (7版)
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矽晶圓半導體材料技術
ISBN13:9786263284104
出版社:全華圖書
作者:林明獻
裝訂:軟精
規格:26cm*19cm*3cm (高/寬/厚)
版次:7
出版日:2023/03/01
中文圖書分類:電子工程
內容簡介
由於矽晶圓材料是半導體工業的基礎,因此從事半導體領域之學術研究與工程人員,都必須深入的瞭解矽晶圓的基本性質與製造過程。
因此本書內容上採深入淺出的方式敘述,除了介紹矽晶圓工業的歷史演進與產業現況之外,尚包含了以下單元:矽晶的基本性質、多晶矽的製造技術、單晶生長、矽晶缺陷、矽晶之加工成型、性質檢測等單元。
作者將本書的重點放在矽晶圓製造流程的介紹上。適用於晶圓半導體材料技術有興趣之讀者及相關從業人員。
本書特色
1.本書為國內第一本介紹矽晶圓材料的專業參考書籍。
2.詳細介紹矽晶的基本性質,矽晶圓材料的製造流程、矽晶圓缺陷控制以及矽晶圓性質檢測等單元,是一本從事半導體領域之學術研究與工程人員必備的專業書籍。
目錄
CH1 緒論
CH2 矽晶的性質
2-1 結晶性質
2-2 半導體物理與矽晶的電性
2-3 矽的光學性質
2-4 矽的熱性質
2-5 矽的機械性質
CH3 多晶矽原料的生產技術
3-1 塊狀多晶矽製造技術-西門子方法
3-2 塊狀多晶矽製造技術-AsiMi方法
3-3 粒狀多晶矽製造技術
CH4 單晶生長
4-1 單晶生長理論
4-2 CZ矽晶生長法(Czochralski Pulling)
4-3 MCZ矽單晶生長法
4-4 CCZ矽單晶生長法
4-5 FZ矽單晶生長法
CH5 矽晶圓缺陷
5-1 CZ矽晶的點缺陷與微缺陷
5-2 氧析出物(Oxygen Precipitation)
5-3 OISF(Oxidation Induced Stacking Faults)
CH6 矽晶圓之加工成型
6-1 切斷(Cropping)
6-2 外徑磨削(OD Grinding)
6-3 方位指定加工─平邊V-型槽(Flat & Notch Grinding)
6-4 切片(Slicing)
6-5 圓邊(Edge Rounding)
6-6 研磨(Lapping)
6-7 雙盤研磨(Double Disk Grinding, DDG)
6-8 蝕刻(Etching)
6-9 拋光(Polishing)
6-10 清洗(Cleaning)
6-11 矽晶圓的背面處理
CH7 矽磊晶生長技術
7-1 CVD 基本原理
7-2 矽磊晶的生長
7-3 矽磊晶的性質
CH8 矽晶圓性質之檢驗
8-1 PN 判定
8-2 電阻量測
8-3 結晶軸方向檢定
8-4 氧濃度的測定
8-5 Lifetime量測技術
8-6 晶圓缺陷檢驗與超微量分析技術
8-7 晶圓表面微粒之量測
8-8 金屬雜質之量測
8-9 平坦度之量測
CH9 矽晶圓在半導體上的應用
9-1 記憶體(Memory)
9-2 邏輯積體電路(Logic IC)
9-3 功率半導體元件(Power Semiconductor Device)
附錄A 晶格幾何學
附錄B 基本常數
附錄C 矽的基本性質
附錄D 矽晶圓材料及半導體工業常用名詞之解釋
附錄E 矽晶圓片的重要規格參數
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半導體元件物理與製作技術(Semiconductor Devices: Physics & Technology 3/E) (3版)
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【中文翻譯書】
書名:半導體元件物理與製作技術第三版
原文書名:Semiconductor Devices: Physics & Technology 3/E
作者: 施敏、李明逵
譯者:曾俊元
出版社:國立交通大學
出版日期:2013/08
ISBN:9789866301568
內容簡介
施敏教授從事元件及製程之研究與發展迄今五十餘年,以「非揮發性記憶體」的發明,奠定其半導體界的地位;李明逵教授從事半導體物理元件教學多年。本書是學生學習應用物理、電機電子及材料科學等領域的必備基礎教材,也是工程師及科學界需要知道最新元件和技術發展的最佳參考。
本書與第二版的差異為,我們修正並更新了35% 的教材,增加了許多章節討論近年來較重要的題目,如互補式金氧半影像感測器(CMOS image sensors)、鰭式場效電晶體(FinFET)、第三代太陽能電池(3rd generation solar cells)與原子層沉積(atomic layer deposition)。此外,我們刪除或減少了一些較不重要的章節,以維持本書的長度。
由於金氧半場效電晶體(MOSFET)對於電子產品的應用愈來愈重要,因此,我們對金氧半場效電晶體與其相關元件的論述增加了兩個章節。此外,在通訊與能源材料方面,我們對光元件的論述亦增加了兩個章節。
為了改善每個主題的易讀性,含有研究所程度之數學或物理觀念的章節被移到本書最後的附錄之中。
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電路設計模擬-應用PSpice中文版2/e (2版)
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書名:電路設計模擬:應用PSpice中文版(第二版)(附中文版試用版及範例光碟)
作者:盧勤庸
出版社:全華
出版日期:2014/03/00
ISBN:9789572187005
內容簡介
本書具有以下特點:1.對PSpice軟體系統功能有詳盡的步驟說明圖,讓讀者一看就懂。2.幫助讀者快速了解利用PSpice軟體畫出電路圖,並分析較複雜的類比及數位電路。3.每章節均提供許多實驗,可在電腦實驗室中多做練習,定能幫助讀者循序漸進學習使用PSpice模擬分析軟體。適用於科大電子、電機、資工系「電腦輔助電路設計」、「電子電路模擬及設計」相關課程。
本書特色
1.本書以應用PSpice軟體分析電晶體、相關電路及設計應用電路為主軸。
2.本書能幫助讀者循序漸進學習PSpice模擬分析軟體,並提供許多實驗練習。
3.本書對PSpice軟體功能有詳盡的步驟說明圖,讓讀者一看就懂。
4.幫助讀者快速了解利用PSpice軟體畫出電路圖,並分析較複雜的類比及數位電路。
目錄
第一章 PSPICE軟體介紹及使用說明
1-1 PSpice軟體的由來
1-2 為何使用電腦輔助軟體模擬電路
1-3 PSpice 軟體的系統結構
1-4 電路編輯視窗內容介紹
1-5 更改電路圖頁的大小
1-6 PSpice功能的執行過程及檔案說明
第二章 建立一個基本的電路檔案
2-1 建立電路檔案的準備工作
2-2 完成一個電路圖
2-3 完成一個較複雜的電路圖
第三章 偏壓點分析和小訊號直流增益分析
3-1 PSpice軟體的電路分析方法概論
3-2 直流分析的輸出變數說明
3-3 基本電路設計流程介紹
3-4 直流分析-偏壓點分析
3-5 直流分析-小訊號直流增益
3-6 特別功能介紹
第四章 直流掃瞄、巢式掃瞄和靈敏度分析
4-1 直流分析-直流掃描
4-2 巢式掃描
4-3 靈敏度
第五章 PSpice視窗說明與操作介紹
5-1 執行探針視窗設定工作
5-2 探針視窗的波形顯示方式
5-3 改變座標軸的範圍
5-4 多重Y軸及多重圖框
5-5 多個圖形視窗同時顯示
5-6 啟動游標功能測量波形
第六章 交流掃描分析和雜訊分析
6-1 交流分析的輸出變數說明
6-2 交流掃描分析
6-3 雜訊分析
第七章 暫態分析與傅立葉分析
7-1 電源或訊號源元件介紹
7-2 暫態分析
7-3 傅立葉分析
第八章 修改元件模型參數
8-1 元件模型資料庫說明
8-2 修改模型資料庫的參數
8-3 掃描模型參數
第九章 電路分析和參數調變分析
9-1 電路分析
9-2 參數掃描分析
第十章 蒙地卡羅分析和最壞情況分析
10-1 蒙地卡羅分析
10-2 最壞情況分析
第十一章 數位電路和混合電路分析
11-1 組合邏輯電路分析
11-2 循序邏輯電路分析
第十二章 數位電路最壞情況分析
12-1 組合邏輯電路最壞情況分析
12-2 循序邏輯電路最壞情況分析
第十三章 階層式電路設計
13-1 由上而下電路設計法
第十四章 修改零件和建立元件庫
14-1 使用零件編輯器
14-2 修改原來元件符號
14-3 建立一個新的元件庫
附錄
附錄A 基本電路元件集
附錄B PSpice點命令集
附錄C PSpice文字輸入檔說明
附錄D 半導體元件模型參數
附錄E 安裝PSpice中文版軟體
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機械製造
ISBN13:9789864632473
出版社:全華圖書
作者:孟繼洛 主編;孟繼洛;傅兆章;許源泉;黃聖芳;李炳寅;翁豐在;黃錦鐘;林守儀;林瑞璋;林維新;馮展華;胡毓忠;楊錫杭 編著
裝訂:平裝
規格:26cm*19cm*2.4cm (高/寬/厚)
版次:2
出版日:2016/06/01
中國圖書分類:機械工廠
內容簡介
本書係由各大學、科技大學、技術學院資深具有多年教學製造相關課程經驗教師,並依專長分工撰寫,再經整合整理使一致化而完成。由於產品眾多,編輯係以基礎之製造方法為始,再繼續根據工業發展,給以自動化及精密化內容說明,內容介紹各種加工技術及相關基本原理、應用方法,並闡述了基本概念及加工技術的特殊方法。配合圖表豐富與本文對照,易讀易懂。適合私大、科大之機械相關科系必修「機械製造」課程之學生研讀或從事機械製造相關產業人員參考。
本書特色
1.本書簡明扼要的闡述,加工技術相關基本原理及應用方法。
2.各章節劃分清晰,研讀容易,附加習題引導內容重點。
3.配合豐富圖表與本文對照,易讀易懂。
4.本書係以基礎之製造方法為始,再繼續根據工業發展,給以自動化及精密化內容,以期在修習後能適應業界需求。
目錄
第1章 概 論
1-1 機械製造的意義
1-2 機械製造的發展
1-3 製造自動化的演進
1-4 製造的系統
1-5 基本製造方法
1-6 產品發展的趨勢
1-7 機械製造未來的發展
1-7-1 在材料選用上
1-7-2 在方法的選擇上
1-7-3 在製造技術的觀念上
習 題
第2章 鑄造工程
2-1 簡 介
2-1-1 鑄造的定義
2-1-2 鑄造工程內容
2-1-3 鑄造廠設備
2-1-4 鑄造廠應用材料
2-2 鑄造金屬的性質
2-2-1 金屬凝固組織
2-2-2 鑄造性
2-3 砂模鑄造
2-3-1 鑄砂
2-3-2 砂模種類
2-3-3 砂模基本組成
2-4 特殊鑄造法
2-4-1 精密鑄造法
2-4-2 離心鑄造法
2-4-3 壓鑄法
2-4-4 永久模鑄造法
2-4-5 低壓鑄造法
2-4-6 消失模鑄造法
2-4-7 其他特殊鑄造法
2-4-8 鑄造方法選擇的原則
2-5 鑄造清理和檢驗
2-5-1 鑄件清理及後處理
2-5-2 鑄件熱處理
2-5-3 鑄件檢驗
2-5-4 鑄件缺陷及預防
習 題
參考文獻
第3章 塑性加工
3-1 塑性加工概說
3-1-1 塑性加工的意義與方法
3-1-2 塑性加工的特色與應用
3-1-3 塑性加工的基本原理
3-2 滾軋加工
3-2-1 滾軋意義與分類
3-2-2 滾軋基本原理
3-2-3 滾軋設備
3-2-4 滾軋實務
3-3 鍛造加工
3-3-1 鍛造的意義與分類
3-3-2 鍛造的製程
3-3-3 鍛造設備
3-3-4 鍛造方法與缺陷
3-4 擠伸加工
3-4-1 擠伸的意義與分類
3-4-2 擠伸的流動變形與方法
3-4-3 擠伸機具
3-4-4 擠伸製程與缺陷
3-5 抽拉加工
3-5-1 抽拉意義
3-5-2 抽拉的製程
3-5-3 抽拉機具
3-6 沖壓加工
3-6-1 沖壓加工的意義
3-6-2 沖剪加工
3-6-3 彎曲加工
3-6-4 引伸加工
3-6-5 壓縮加工
3-6-6 成形加工
3-6-7 特殊沖壓成形
習 題
參考文獻
第4章 接合加工
4-1 接合加工的分類
4-2 銲接的定義與分類
4-3 氣體銲接
4-4 電弧銲
4-4-1 遮蔽金屬電弧銲
4-4-2 氣體鎢極電弧銲
4-4-3 氣體金屬極電弧銲
4-4-4 包藥銲線電弧銲
4-4-5 潛弧銲
4-4-6 植釘銲法
4-4-7 電離氣電弧銲
4-5 電阻銲
4-5-1 電阻點銲法
4-5-2 電阻浮凸銲法
4-5-3 電阻縫銲法
4-5-4 端壓銲法
4-5-5 閃光銲
4-5-6 衝擊銲
4-6 固態銲接
4-6-1 摩擦銲接
4-6-2 爆炸銲接
4-6-3 超音波銲接
4-6-4 高週波銲接法
4-7 軟銲與硬銲
4-7-1 軟銲
4-7-2 硬銲
4-8 特殊銲接法
4-8-1 雷射光銲接
4-8-2 電子束銲接
4-8-3 電熔渣銲接與電熱氣銲接
4-8-4 鋁熱料銲接
4-9 黏著劑接合法
習 題
參考文獻
第5章 切削加工
5-1 緒 論
5-2 切削力學與能量
5-3 切屑的型態
5-3-1 連續式切屑
5-3-2 具有加積屑的連續式切屑
5-3-3 不連續式切屑
5-3-4 鋸齒形切屑
5-3-5 斷屑器
5-4 切削溫度
5-5 刀具壽命
5-5-1 刀具的基本幾何角度
5-5-2 刀具的磨耗形式
5-5-3 刀具壽命的標準
5-5-4 刀具壽命
5-6 表面粗糙度
5-7 切削劑
5-8 刀具材料
5-9 切削方法
5-9-1 車削
5-9-2 銑削加工
5-9-3 鑽削加工
習 題
參考文獻
第6章 非傳統與微細加工
6-1 放電加工簡介
6-1-1 放電加工基本原理
6-1-2 加工參數的選取
6-1-3 線切割放電加工機
6-1-4 微放電與陣列加工
6-1-5 多電極的加工
6-1-6 線切割放電研磨
6-1-7 放電微細加工應用實例
6-2 精密無心研磨
6-3 超音波加工
6-3-1 超音波輔助電鑄
6-3-2 電解與電鑄原理
6-3-3 電鍍實驗
6-4 超音波輔助電解
6-5 精密化學蝕刻加工實例
6-6 雷射加工與準分子雷射的應用
6-6-1 特殊結構加工方法簡述
6-6-2 雷射加工的基本操作概念
6-6-3 技術特性
6-6-4 特殊圖案加工實例
6-6-5 微細加工應用
習 題
參考文獻
第7章 粉末冶金
7-1 粉末冶金的特徵
7-2 粉末冶金法的製程
7-3 燒結機構
7-4 粉末冶金法的種類
7-4-1 無加壓成形法
7-4-2 高溫成形法
7-4-3 擠出成形法
7-4-4 均壓成形法
7-5 粉末冶金用模具的基本結構
7-6 粉末冶金成形機的種類與構造
7-7 壓縮成形用模具
7-8 粉末冶金成形實例
習 題
參考文獻
第8章 表面處理
8-1 表面概說
8-1-1 表面的構成與影響
8-1-2 表面失效
8-2 表面改質概說
8-2-1 表面改質的意義與目標
8-2-2 表面改質的過程與方法
8-3 機械法
8-3-1 機械磨光
8-3-2 滾磨法
8-3-3 噴擊法
8-3-4 擠光法
8-4 化學法
8-4-1 酸洗
8-4-2 電解研磨
8-4-3 化學研磨
8-5 冶金法
8-5-1 火焰硬化法
8-5-2 高週波硬化法
8-5-3 滲碳法
8-5-4 氮化法
8-6 金屬被覆法
8-6-1 電 鍍
8-6-2 金屬噴敷
8-6-3 蒸著法
8-7 無機被覆法
8-7-l 化成覆層
8-7-2 陽極處理
8-7-3 著色處理
8-7-4 琺瑯處理
8-8 有機被覆法
8-8-1 塗 裝
8-8-2 塑膠加襯
習 題
參考資料
第9章 非金屬成形
9-1 前 言
9-2 塑膠成形
9-2-1 塑膠的優缺點
9-2-2 常用的成形法
9-3 複合材料的成形
9-3-1 FRP的特色與成形品
...
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電化學原理與方法
作 者:胡啟章
出版社別:五南
出版日期:2019/12/19(2版4刷)
ISBN:978-957-11-6200-3
書 號:5E10
頁 數:160
開 數:20K
內容簡介
針對電化學系統作介紹,再對電化學與熱力學平衡之關係作說明,並進一步探討電極動力學之相關原理。
介紹常見的電化學分析技術與系統,包括電位測定法、電位控制法、電流涳制法、伏安法以及流動系統的電化學分析技術。
目錄
第一部份 電化學基本原理
第1章 電化學反應系統簡介
第2章 熱力學與平衡電位
第3章 電極動力學
第二部份 電化學方法
第4章 電位測定法
第5章 電流控制法
第6章 電位控制法
第7章 流動系統之分析技術
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冷凍空調實務:工程人員進修檢定 (1版)
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書名:冷凍空調實務
作者:簡詔群、簡子傑
出版社:富民文教
出版日期:2023/05/01
ISBN:9789868374027
內容簡介
工程人員進修參加檢定必讀
原價:
1200
售價:
1068
現省:
132元
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IC封裝製程與CAE應用4/e (4版)
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IC封裝製程與CAE應用
ISBN13:9789865038021
出版社:全華圖書
作者:鍾文仁;陳佑任
裝訂/頁數:平裝/520頁
規格:23cm*17cm*2.1cm (高/寬/厚)
重量:842克
版次:4
出版日:2021/07/15
中國圖書分類:電子工程
內容簡介
本書除了對IC封裝類型、材料、製程、新世代技術有深入淺出的介紹外,針對電腦輔助工程(Computer-Aided Engineering,CAE) 的應用有更詳細的描述;從IC封裝製程(晶圓切割、封膠、聯線技術..)、IC元件的介紹(PLCC、QFP、BGA..)、MCM等封裝技術到CAE工程分析應用在IC封裝,能使讀者在IC封裝製程的領域有更多的收獲!本書適合大學、科大電子、電機系「半導體封裝」及「IC封裝技術」課程或有興趣之讀者使用。
本書特色
1.提供一完整IC封裝資訊的中文圖書。
2.提供IC封裝產業及其先進封裝技術的學習。
3.使讀者了解CAE工程在IC封裝製程的相關應用。
目錄
1
前 言
1-1 封裝的目的[1]1-1
1-2 封裝的技術層級區分1-2
1-3 封裝的分類1-4
1-4 IC封裝技術簡介與發展[4]1-4
1-5 記憶卡封裝技術簡介與發展1-9
1-6 LED封裝技術簡介與發展1-11
2
IC封裝製程
2-1 晶圓切割(Wafer Saw)2-1
2-2 晶片黏結2-3
2-3 聯線技術2-5
2-4 封膠(Molding)2-15
2-5 剪切/成型(Trim/Form)2-17
2-6 印字(Mark)2-18
2-7 檢測(Inspection)2-19
3
IC元件的分類/介紹
3-1 封裝外型標準化的機構[1]3-1
3-2 IC元件標準化的定義3-4
3-3 IC元件的介紹3-11
4
封裝材料的介紹
4-1 封膠材料4-1
4-2 導線架4-10
4-3 基 板4-18
5
新世代的封裝技術
5-1 MCM (Multi-Chip Module)5-1
5-2 LOC (Lead-on-Chip)5-7
5-3 BGA (Ball Grid Array)5-11
5-4 FC (Flip Chip)5-21
5-5 CSP (Chip Scale Package)5-37
5-6 COF(Chip on Flex or Chip on Film)5-46
5-7 COG(Chip on Glass)5-50
5-8 三次元封裝 (3 Dimensional Package)5-63
6
IC封裝的挑戰/發展
6-1 封裝缺陷的預防6-1
6-2 封裝材料的要求和技術發展6-6
6-3 散熱問題的規劃[7][8][9][10]6-14
7
CAE在IC封裝製程的應用
7-1 CAE簡介7-2
7-2 CAE的理論基礎7-2
7-3 封裝製程的模具設計7-4
7-4 封裝製程的模流分析[7][8][9]7-4
7-5 封裝製程的可靠度分析7-10
7-6 CAE工程分析應用在IC封裝製程的案例介紹7-30
7-7 結 論7-151
8
3D CAE在IC封裝製程上的應用
8-1 三維模流分析的優勢8-1
8-2 三維模流分析的理論基礎8-4
8-3 三維模流分析的技術指引 8-10
8-4 三維模流分析應用在IC封裝製程的案例介紹8-20
8-5 覆晶封裝底部填膠的三維充填分析8-39
9
電子封裝辭彙
9-1 專業術語9-1
A
IC導線架之自動化繪圖系統
A-1 軟體簡介附A-1
A-2 佈線區域理論和參數化附A-2
A-3 自動規劃佈線區域之準則附A-4
A-4 案例研究附A-9
A-5 研究成果附A-22
A-6 未來展望附A-23
B
金線偏移分析軟體
B-1 軟體簡介附B-1
B-2 CAE分析資料的匯入附B-3
B-3 金線資料的輸入附B-4
B-4 金線偏移量的計算附B-13
B-5 分析結果的整合與匯出附B-18
B-6 未來展望附B-22
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【中文翻譯書】
書名 :半導體製造技術
原文書名:Semiconductor Manufacturing Technology
原文作者:Michael Quirk
中文譯者:羅文雄
初版日期:2016
出版社:滄海
ISBN:9789867727701
本書特色
●對於半導體製造技術從晶圓準備、次微米製程及封裝測試方面
皆做完整詳盡的介紹。
●最淺顯易懂的字詞揭示出原文書之精湛內容。
●對大專在學學生及實際線上工程師而言,皆是一本優良的課程
教材及技術入門手冊。
校閱者簡介
劉文超
學歷 國立成功大學電機工程研究所博士
現職 國立成功大學電機工程系教授
國立成功大學微電子研究所教授
許渭州
學歷 國立成功大學電機工程研究所博士
現職 國立成功大學電機工程系微電子所所長
國立成功大學電機工程系教授
國立成功大學微電子研究所教授
譯者簡介
羅文雄
學歷 國立成功大學電機工程研究所博士
現職 國立臺灣海洋大學電機工程系教授
蔡榮輝
學歷 國立成功大學電機工程研究所博士
現職 國立高雄師範大學物理系副教授
鄭岫盈
學歷 國立成功大學電機工程研究所博士
現職 亞東技術學院電機工程系助理教授
本書目錄
第1章
半導體工業簡介
第2章
半導體材料特性
第3章
元件技術
第4章
矽與晶圓準備
第5章
半導體製造之化學特性
第6章
半導體製造廠之污染控制
第7章
量測與缺陷
第8章
製程反應室之氣體控制
第9章
IC製造概述
第10章
氧化
第11章
沈積
第12章
金屬化
第13章
微影:氣相塗底至軟烤
第14章
微影:對準與曝光
第15章
微影:光阻顯影與先進雕像
第16章
蝕刻
第17章
離子植入
第18章
化學機械平坦化
第19章
晶圓測試
第20章
裝配與封裝
附錄A
化學品及其安全性
附錄B
無塵室中的污染控制
附錄C
單位
附錄D
以氧化物厚度為函數的顏色
附錄E
光阻化學品概論
附錄F
蝕刻化學品
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半導體製程概論(May:Fundamentals of Semiconductor Fabrication)
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書名:半導體製程概論(增訂版)(May:Fundamentals of Semiconductor )
作者:施敏、 梅凱瑞
出版社:交大出版社
ISBN:9789866301896
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【簡介】
生活中各種電子產品,都有半導體晶片的存在,舉凡手機、筆記型電腦、電腦螢幕、電視、機器人、智慧手錶等等,半導體技術已成為現代科技之石。本書從最基礎的電學知識介紹,進而針對半導體原理、半導體製程、半導體在生活中的應用有一番認識,接下來對電路設計、半導體產業現況及未來發展,有完整的介紹。本書適合高中職「半導體原理與製程概論」、「半導體概論與應用」課程及對半導體領域有興趣者使用。
1.本書作者為所屬領域專業人士。
2.內容簡潔,必備知識圖文並茂。
3.書內提供半導體製程相關加工技術之介紹,對加工原理及其應用領域,有初步的認識。
4.半導體產業現況及未來發展,有完整的探討。
【目錄】
第1章 電的科學知識
1-1電學概論
1-2電子元件介紹
1-3常用儀器與設備介紹
第2章 半導體原理
2-1半導體種類
2-2二極體介紹與工作原理
2-3電晶體介紹與工作原理
2-4積體電路介紹
第3章 半導體製程
3-1半導體產業介紹
3-2無塵室與晶圓尺寸介紹
3-3重要製程介紹
3-4晶片製作流程
3-5研究發展介紹
第4章 半導體在生活中的應用
4-1生活中的晶片
4-2晶中片各種應用與功能
4-3晶片訊號的傳輸與處理
第5章 電路設計
5-1類比電路數位電路
5-2基本還輯閘
5-3布林代數與邏輯電路設計
5-4組合邏輯電路
5-5循序邏輯電路
第6章 半導體產業的社會面向議題
6-1半導體與臺灣
6-2 臺灣半導體產業生態系
6-3世界半導體產業的代表性廠商
6-4臺灣半導體面臨的各種議題
附錄
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半導體製程入門:從零開始了解晶片製造 (1版)
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【簡介】
本書譯自Hong Xiao(蕭宏) 原著「Introduction to Semiconductor Manufacturing Technology」(第二版),提供最新的半導體製程相關加工技術之介紹與各種加工原理之說明與應用,是半導體製程實務最為鉅細靡遺的著作。本書適用於大學、科大電子、電機、資工、機械系『半導體工程』、『半導體製程』、『半導體導論』課程使用。
1.本書的內容集中在最新的積體電路製程技術同時也兼顧早期的技術以便讀者對積體電路製程技術的歷史發展有更完整的瞭解。
2.書內提供半導體製程相關加工技術之介紹與各種加工原理之說明與應用,使學生熟悉各種加工原理及其應用領域,以作為投入電子工業之基礎訓練課程。
3.此書委實是對半導體製程實務最為鉅細靡遺的著作,作為技術人員的工具書或有興趣了解晶圓廠的教科書,都是最適合的寶典。
【目錄】
第一章 導論
1.1 簡史
1.2 概述
1.3 本章總結
習題
參考文獻
第二章 積體電路製程介紹
2.1 IC製程簡介
2.2 IC的良率
2.3 無塵室技術
2.4 IC晶圓廠的基本結構
2.5 IC測試與封裝
2.6 近期的發展
2.7 本章總結
習題
參考文獻
第三章 半導體基礎
3.1 半導體基本概念
3.2 半導體基本元件
3.3 IC晶片
3.4 IC基本製程
3.5 互補式金屬氧化物電晶體
3.6 2000後半導體製程發展趨勢
3.7 本章總結
習題
參考文獻
第四章 晶圓製造、磊晶成長和基板工程
4.1 簡介
4.2 為什麼使用矽材料
4.3 晶體結構與缺陷
4.4 從矽砂到晶圓
4.5 磊晶矽生長技術
4.6 基板工程
4.7 未來趨勢
4.8 本章總結
習題
參考文獻
第五章 加熱製程
5.1 簡介
5.2 加熱製程的硬體設備
5.3 氧化製程
5.4 擴散
5.5 退火過程
5.6 高溫化學氣相沉積
5.7 快速加熱製程(RTP)系統
5.8 加熱製程近年發展
5.9 本章總結
習題
參考文獻
第六章 微影製程
6.1 簡介
6.2 光阻
6.3 微影製程
6.4 微影技術的發展趨勢
6.5 其他微影製程方法
6.6 極紫外光(EUV)微影技術
6.7 安全性
6.8 本章總結
習題
參考文獻
第七章 電漿製程
7.1 簡介
7.2 電漿基本概念
7.3 電漿中的碰撞
7.4 電漿參數
7.5 離子轟擊
7.6 直流偏壓
7.7 電漿製程優點
7.8 電漿增強化學氣相沉積及電漿蝕刻反應器
7.9 遠距電漿製程
7.10 高密度電漿(HDP)製程
7.11 本章總結
習題
參考文獻
第八章 離子佈植製程
8.1 簡介
8.2 離子佈植技術簡介
8.3 離子佈植技術硬體設備
8.4 離子佈植製程
8.5 安全性
8.6 近年發展及應用
8.7 本章總結
習題
參考文獻
第九章 蝕刻製程
9.1 蝕刻製程簡介
9.2 蝕刻製程基礎
9.3 濕式蝕刻製程
9.4 電漿(乾式)蝕刻製程
9.5 電漿蝕刻製程
9.6 蝕刻製程發展趨勢
9.7 蝕刻工藝的檢驗和計量
9.8 最新進展
9.9 本章總結
習題
參考文獻
第十章 化學氣相沉積與介電質薄膜
10.1 簡介
10.2 化學氣相沉積
10.3 介電質薄膜的應用於CMOS IC
10.4 介電質薄膜特性
10.5 介電質CVD製程
10.6 旋轉塗佈矽玻璃(Spin-on Glass,SOG)
10.7 高密度電漿CVD(HDP-CVD)
10.8 介電質CVD反應室清潔
10.9 新千禧年的介電質材料
10.10 本章總結
習題
參考文獻
第十一章 金屬化製程
11.1 簡介
11.2 導電薄膜
11.3 金屬薄膜特性
11.4 金屬化學氣相沉積
11.5 物理氣相沉積
11.6 銅金屬化製程
11.7 最新進展
11.8 安全性
11.9 本章總結
習題
參考文獻
第十二章 化學機械研磨製程
12.1 簡介
12.2 CMP硬體設備
12.3 CMP研磨漿
12.4 CMP基本理論
12.5 CMP製程
12.6 CMP製程近年發展
12.7 本章總結
習題
參考文獻
第十三章 半導體製程整合
13.1 簡介
13.2 晶圓準備
13.3 隔離技術
13.4 井區形成
13.5 電晶體製造
13.6 高k金屬閘極MOSFET
13.7 連線技術
13.8 鈍化
13.9 本章總結
習題
參考文獻
第十四章 IC製程技術
14.1 簡介
14.2 1980年代CMOS製程流程
14.3 1990年代CMOS製程流程
14.4 2000年代CMOS製程流程
14.5 2010年代CMOS製程流程
14.6 記憶體晶片製造製程
14.7 本章總結
習題
參考文獻
第十五章 3D IC元件的製造過程
15.1 引言
15.2 埋入式閘極字元線DRAM
15.3 3D-NAND 快閃記憶體
15.4 高介電質、金屬閘極FinFET CMOS製造
15.5 本章總結
習題
參考文獻
第十六章 總結與未來趨勢
參考文獻
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